
| View X高解析度X光无损探伤仪主要使用于BGA、CSP、flip chip、半导内部以及多层电路板的质量检测,并能快捷清晰地检测电路板的焊接情况,特别适用生产过程的质量检测和返修后的质量检测。 | |||
| View X为X光机系列中的一组或称为手动型探伤仪,它包括一个基于Windows系统平台的工作台(View X -1000),并配有图像多样采集功能,能够做到图像同步采集与分析。View X光机完全体现了Scienscope设计中的集使用简便、图像清晰、价格合理的完美理念。 | |||
| 1、最高可达130千伏,5微米聚焦的X光管能产生125倍的几何放大率,再加上电脑放大可以达到1000倍的放大率。 | |||
| 2、观察范围可从1.5毫米至50毫米。 | |||
| 3、采用激光笔辅助样品定位。 | |||
| 4、X光管的Z轴可动控制(FOV和放大率控制)。 | |||
| 5、X光管探测器的Z轴可动控制(FOV和放大率控制)。 | |||
| 6、载物台可作±60°倾斜。 | |||
| 型号 | 经济型E80/100/130 | 豪华型L80/100/130 | |
| 光管 | 光管类型 | 封闭管 / Sealed tube | |
| 光管电压 | 80kV、100KV、130KV | ||
| 光管电流 | 0.15mA | ||
| 光管聚焦尺寸 | 4.5-7um | ||
| 冷却方式 | 风冷 / air cooling | ||
| 几何放大倍率 | 125X | ||
| 载物台 | X轴 | 400mm | 450mm |
| Y轴 | 400mm | 400mm | |
| Z轴 | 270mm | 340mm | |
| 旋转 | ±60° | ||
| 增强屏 | 视场 | 4/2 inch | |
| 解析度 | 75 lp/cm | ||
| X-Ray外壳 | 尺寸 | 1450*1400*1750mm | 1635*1240*2180mm |
| 重量 | 约770 kg | 约650 kg | |
| 电源 | 供电方式 | AC110-230VAC, 50/60Hz | |
| 计算机 | 品牌 | 3DFAMILY | |
| 操作系统 | Windows®XP | ||
| 显示器 | 17”CRT / LCD | ||
| CPU | Intel Pentium IV | ||
| 工作环境 | 温度 | 0-40℃ | |
| 辐射安全标准 | 美国FDA安全辐射标准 | ||
| 保修期 | 一年保修 | ||