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供应:无损探伤仪

供应:无损探伤仪

详细内容

    View X高解析度X光无损探伤仪主要使用于BGACSPflip chip、半导内部以及多层电路板的质量检测,并能快捷清晰地检测电路板的焊接情况,特别适用生产过程的质量检测和返修后的质量检测。  
    View XX光机系列中的一组或称为手动型探伤仪,它包括一个基于Windows系统平台的工作台(View X -1000),并配有图像多样采集功能,能够做到图像同步采集与分析。View X光机完全体现了Scienscope设计中的集使用简便、图像清晰、价格合理的完美理念。  
1、最高可达130千伏,5微米聚焦的X光管能产生125倍的几何放大率,再加上电脑放大可以达到1000倍的放大率。  
2、观察范围可从1.5毫米至50毫米。  
3、采用激光笔辅助样品定位。  
4、X光管的Z轴可动控制(FOV和放大率控制)。  
5、X光管探测器的Z轴可动控制(FOV和放大率控制)。  
6、载物台可作±60°倾斜。  
型号 经济型E80/100/130 豪华型L80/100/130
光管 光管类型  封闭管 / Sealed tube
光管电压  80kV100KV130KV
光管电流  0.15mA
光管聚焦尺寸 4.5-7um
冷却方式  风冷 / air cooling
几何放大倍率  125X
载物台 X  400mm  450mm 
Y 400mm  400mm 
Z  270mm  340mm 
旋转 ±60°
增强屏 视场 4/2 inch
解析度 75 lp/cm
X-Ray外壳 尺寸 1450*1400*1750mm 1635*1240*2180mm
重量  770 kg  650 kg 
电源  供电方式 AC110-230VAC, 50/60Hz
计算机 品牌  3DFAMILY
操作系统 Windows®XP
显示器  17”CRT / LCD
CPU Intel Pentium IV
工作环境 温度 0-40
辐射安全标准 美国FDA安全辐射标准
保修期 一年保修

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无损探伤仪图

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